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設(shè)計(jì)工具IDE
設(shè)計(jì)類(lèi)型精簡(jiǎn)
用途電子
品牌普冉
PY32F002B除非特殊說(shuō)明，通過(guò)在環(huán)境溫度 TA = 25°C 和 TA = TA(max)下進(jìn)行的芯片量產(chǎn)測(cè)試篩選，保證在較壞的環(huán)境
溫度、供電電壓和時(shí)鐘頻率條件下達(dá)到較小值和較大值。
基于表格下方注解的電特性結(jié)果、設(shè)計(jì)和/或工藝參數(shù)的數(shù)據(jù)，未在生產(chǎn)中進(jìn)行測(cè)試。較小和較大數(shù)值
參考了樣品測(cè)試，取平均值再加或者減三倍的標(biāo)準(zhǔn)偏差。
5.1.2. 典型值
除非特殊說(shuō)明，典型數(shù)據(jù)是基于 TA = 25°C 和 VCC = 3.3V。這些數(shù)據(jù)僅用于設(shè)計(jì)指導(dǎo)未經(jīng)過(guò)測(cè)試。
典型的 ADC 精度數(shù)值是通過(guò)對(duì)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)批次的采樣，在所有溫度范圍下測(cè)試得到，95%的芯片誤差小于等
于給出的數(shù)值。
5.2. 絕對(duì)較大額定值
如果加在芯片上超過(guò)以下表格給出的絕對(duì)較大值，可能會(huì)導(dǎo)致芯片永久性的損壞。這里只是列出了所能承
受的強(qiáng)度分等，并不意味著在此條件下器件的功能操作無(wú)誤。長(zhǎng)時(shí)間工作在較大值條件下可能影響芯片的可靠
性
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